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OPPO关联公司公开“判断电子设备是否被拆过机的方法”相关专利
来源:互联网   发布日期:2021-03-30 07:16:29   浏览:7359次  

导读:该专利摘要显示,本申请提供了一种判断电子设备是否被拆过机的方法、鉴别设备及计算机存储介质,判断过程简单、高效,判断结果明显、可靠。...

该专利摘要显示,本申请提供了一种判断电子设备是否被拆过机的方法、鉴别设备及计算机存储介质,判断过程简单、高效,判断结果明显、可靠。

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